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序号 |
仪器名称 |
购置日期 |
生产厂家 |
型号 |
规格 |
1 |
C3型固体介质空间电荷测试系统 |
2012-10-26 |
上海翔铁机电设备有限公司 |
PEA-C3 |
* |
2 |
X射线衍射仪 |
2009-10-14 |
日本理学株式会社 |
D/MAX/2500PC |
18KW |
3 |
半导体分析仪 |
2011-04-08 |
美国安捷伦 |
B1500A |
10插槽配置 |
4 |
比表面积及孔隙分析仪 |
2012-09-26 |
美国麦克仪器公司 |
ASAP2020 |
* |
5 |
超导量子磁测量系统 |
2008-11-27 |
美国量子设计公司 |
MOMS-XL5 |
5T 2K-800K |
6 |
磁共振分析仪 |
2010-04-09 |
德国布鲁克公司 |
Miniopec mq60 |
60MHz |
7 |
电化学分析仪 |
2012-05-14 |
瑞士万通 |
Aut302N.FRA2.V |
+10V~-10V |
8 |
电化学工作站 |
2010-06-02 |
武汉科思特仪器公司 |
CS380 |
灵敏度20nA-2A |
9 |
电位粒度分析仪 |
2012-05-14 |
马尔文 |
ZS90 |
0.6nm-6um |
10 |
电子万能材料试验机 |
2003-11-01 |
无 |
* |
* |
11 |
动态光散射仪 |
2010-04-09 |
英国马尔文公司 |
NanoZS |
173℃光散射 |
12 |
化学吸附仪 |
2012-09-26 |
美国麦克仪器公司 |
AutochemⅡ2920 |
* |
13 |
介电阻抗-热激电流综合分析仪 |
2013-05-23 |
德国Novocontrol公司 |
Concept 40 |
3uHZ-20MHZ |
14 |
拉力试验机 |
2012-01-06 |
高铁科技股份有限公司 |
TCS-2000 |
3ton |
15 |
气象色谱质谱联用仪 |
2011-09-08 |
安捷伦科技有限公司 |
7890A/5975C |
HP-5，DB-wax |
16 |
扫描式电子显微镜 |
2003-09-01 |
日本电子公司 |
* |
* |
17 |
扫描探针显微镜 |
2006-07-12 |
美国维易科精密仪器公司 |
MultiMode picoFo |
样品尺寸: x,y轴方向> 200mm, z轴>25mm |
18 |
数显液压式万能试验机 |
2005-03-22 |
深圳瑞格尔仪器公司 |
RMES-100B |
10T |
19 |
太阳能测试系统 |
2012-01-06 |
Newport |
IPCE-QE |
200-1800nm |
20 |
探针测试台 |
2012-09-06 |
美国CASCADE公司 |
M150 |
150MM |
21 |
荧光光谱仪 |
2008-12-01 |
日本日立公司 |
F-4600 |
200-800nm |
22 |
紫外、可见、近红外分光光度计 |
2002-11-01 |
美国瓦里安(澳)公司 |
CARY500UV-VIS-NI |
* |
23 |
综合热分析仪 |
2000-06-01 |
德国耐驰公司 |
STA449 C/3/F |
室温—1500℃ |
24 |
飞秒激光器系统 |
2005-09-15 |
美国光谱物理公司 |
Tsunami3941－MB |
710-980nm |
25 |
光解水制氢在线测试系统 |
2014-12-31 |
北京中教金源科技有限公司 |
CEL-SPH2N |
产氢范围0.01ul-100m |
26 |
能谱仪 |
2014-12-31 |
英国牛津公司 |
X-MAX |
80mm2 |
27 |
扫描隧道显微镜 |
2002-12-01 |
瑞士 |
STM/AFM |
* |
28 |
时间分辨率荧光分光光度计 |
2005-12-20 |
德国PicoQuant GmbH |
Fluo Time 200 |
160-850nm |
29 |
显微硬度计 |
2004-12-17 |
上海精密仪器有限公司 |
HXD-1000TMC |
自动转塔 |
30 |
荧光倒置显微镜 |
2006-07-12 |
日本尼康公司 |
尼康TE2000 |
1X-1.5X相差、荧光、DIC、霍夫曼调制相差、荧光+DIC |
31 |
荧光分光光度计 |
2014-04-22 |
日立(日本)公司 |
F-4600 |
200-900nm |
32 |
原子吸收光谱仪 |
2014-12-31 |
美国PE公司 |
PinAAcle 900F |
1800线/nm |
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